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有一家業主的漏保一天跳幾次，跳了以后還能合閘，就是反復發作。業主找人維修，維修人員以為是漏保壞了，換了漏保還是跳閘，實在沒法找出原因，只好讓業主找物業解決。由于總閘是漏保，跳閘以后全屋沒電，所以業主急切解決問題。

接到業主的求援，我火速到達現場，經過檢測發現普通插座的火線有點輕微漏電，于是拆插座查找故障原因，*后把故障范圍縮小到主臥室。

拆了臥室的幾個插座挨個測量，直到拆了一個插座以后，發現故障消失了。觀察插座的接線乍看沒什么，電線沒有燒焦破皮之類的問題。雖然看不出來問題原因，肯定還是存在問題的，不然故障怎么會突然消失了。

經過反復觀察暗盒與電線，發現火線絕緣層上有一個小凹坑，不仔細觀察還看不出來。根據凹坑的形狀和位置，應該是固定插座的螺絲頂出來的。就是這個凹坑導致絕緣層變薄了，另外絕緣層的絕緣性能不好，雖然沒有破皮，但是會有一些漏電的問題。所以火線對地漏電非常輕微，一天幾個小時跳一次。

對維修電工來說*怕這種間隔時間長的跳閘，感覺維修無從下手，有的維修效果當時看不出來，跳閘時間間隔太長，沒時間觀察，所以沒把握是否解決問題。

輕微漏電會造成定時或者不定時的跳閘，主要跟漏電保護器的工作原理有關，集成電路45腳上的紅?里的C2電容是積分電容，輕微的漏電電流在它上積累，電流的積累就導致電壓逐漸慢慢升高。

等電容上的電壓升高到設定值，門電路翻轉輸出電流，給可控硅的觸發極電容C4充電，C4充電到可控硅的觸發電壓，可控硅就導通，脫扣線圈L得電動作，拉動漏保的脫扣機構跳閘。決定漏保靈敏度的就是C2電容量大小，如果選擇的容量大，它對漏電的表現就反應遲鈍一些，對輕微的漏電不會跳閘，或者間隔跳閘的時間變長了。

如果C2的電容量小，會導致漏保的靈敏度提高，如果靈敏度過高就容易出現稍微漏電就跳閘的問題，這樣影響用電。家用漏保C2的選擇必須根據人體觸電的*低限度選擇，一般是0.047UF。如果是單元幾百A的總漏保，剩余電流在300毫安，C2的電容量就得大一些，具體多大沒見過，剩余電流大10倍，積分電容可能是0.047的10倍左右。

漏電保護器跳閘以后，積分電容開始放電，它上面的電壓逐漸下降，漏保又可以合閘了，合閘以后繼續積累漏電電流，*后又觸發跳閘，反復不斷循環，這就是定時或者不定時跳閘的原因。

數組的基本使用方法
JI CHENG PEIXUN

一. DB中創建，如圖1所示：

圖1 Array在DB中的創建

二. FC的InOut中創建，如圖2所示：

圖2 Array在FC形參中的創建

三. 數組作為實參，如圖3所示：

圖3 Array作為FC的實參

四. FC程序中使用數組元素，使用形參，如圖4所示：

圖4 FC程序中使用形參

五. FC程序中使用數組元素，下標為變址尋址，使用形參，如實現以下功能，將0-7這8個數，送入數組下標為0-7的8個元素，如圖5-7所示：

（1）FC形參設置，如圖5所示：

圖5 FC形參設置

（2）程序編制，如圖6所示：

圖6 程序詳情

（3）SCL的版本，如圖7所示：

圖7 SCL版本的程序

六. 在程序中直接使用數組元素，如圖8所示：

圖8 程序中直接使用數組元素

七. 在程序中直接使用數組元素，下標為變址尋址，如實現以下功能，將0-7這8個數，送入數組下標為0-7的8個元素，如圖9-11所示：

（1）數據塊定義，如圖9所示：

圖9 DB1的定義

（2）程序編制，如圖10所示：

圖10 程序詳情

（3）SCL的版本，如圖11所示：

圖11 SCL版本程序

Array【*】使用實例
JI CHENG PEIXUN

實現以下功能：使用FC的Input定義數組Array[*] of Int，求變長數組元素的總和，可以按照以下步驟來完成。

一. 使用Array[*] ，必須使用如圖12所示的指令，計算數組元素的上下限，從而得出元素個數：

二. 定義變量，如圖13所示。賦初始值，計算上下限，如圖14所示：

三、計算上下限程序，如圖14所示：

（1）輸入Array[*]類型的變量

（2）所求上下限的維數

（3）該維數下的下限/上限，DINT類型

四. 求和程序，如圖15所示：

五. SCL的版本，如圖16所示：

六. OB1中調用實參為不同數組元素個數的數組，如圖17所示：

Array of FB的使用實例
JI CHENG PEIXUN

實現以下功能：FB3多次調用FB4，在FB3內部循環調用，減少程序量。FB4的兩個Input：Start，Stop，一個InOut：Run，建立Array[0..7] of FB4。同時建立變量 Array[0..7] of Struct，作為對應FB4的輸入和輸出，如圖18所示：